芯片测试一般包括哪些类型?

发布日期:2021-01-18 11:36:15   来源 : www.hzjcdz.cn    作者 :杭州晶测电子技术有限公司    浏览量 :62
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一般来说,包括引脚连通性测试,漏电流测试,一些DC(directcurrent)测试,功能测试(functionaltest),Trimtest,根据芯片类型还会有一些其他的测试,例如AD/DA会有专门的一些测试类型。芯片测试的目的是在找出没问题的芯片的同时尽量节约成本,所以,容易检测或者比较普遍的缺陷类型会先检测。一般来讲,首先会做的是连通性测试,我们称之为continuitytest。这是检查每个引脚的连通性是否正常。 新闻内容新闻内容新闻内容



三大芯片测试设备


集成电路行业集计算机、通信、自动化、精密电子测试和微电子等技术于一身,是技术密集、知识密集的高科技行业,集成电路的可靠性、稳定性和一致性要求较高,对生产设备要求较高。半导体芯片测试三大设备包括:测试机、分选机、探针台。


测试机要测试的芯片功能参数包括:如时间、温度、电压、电流、电阻、电容、频率、脉宽、占空比等。随着集成电路应用越趋于广泛,需求量越来越大,对测试成本要求越来越高,因此对测试机的测试速度要求越来越高


分选机的批量自动化作业要求其具备较强的运行稳定性,例如对UPH(每小时运送集成电路数量)和JamRate(故障停机比率)的要求很高。


探针台精度要求非常严苛,重复定位精度要求达到0.001mm(微米)等级;对设备工作环境洁净度要求较高,除需达到几乎无人干预的全自动化作业,对传动机构低粉尘提出要求,还需具备气流除尘等特殊功能。

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